작은 물체에 대한 고정밀 3차원 측정을 실현하기 위해 본 논문에서는 구조화광 조명을 기반으로 한 3차원 형상 측정 시스템을 구축하고, 해당 시스템에 사용된 위상 부호화 알고리즘, 텔레센트릭 카메라 보정 알고리즘 및 프로젝터 보정 알고리즘을 연구하였다. 먼저, 에지 추출 알고리즘을 통해 2차원 평면 표적의 특징점 좌표를 획득하고, 개선된 Zhang 보정 알고리즘을 사용하여 텔레센트릭 카메라를 보정하였으며, 위상 부호화 구조광을 통해 카메라 픽셀과 프로젝터 픽셀 간의 매핑 관계를 얻었다. 그 다음, 매핑 관계를 통해 프로젝터도 특징점 위치 정보를 캡처하여 프로젝터 보정을 완료하였다. 마지막으로, 스테레오 비전 모델을 기반으로 측정 대상 물체의 3차원 재구성을 수행하였다. 실험 결과, 보정된 측정 시스템의 시야는 2000 mm² 이상이며, 전체 시야에서의 측정 정밀도는 약 32 μm, 중심 시야에서의 측정 정밀도는 10 μm임을 보였다. 해당 시스템은 우수한 안정성과 반복성을 가지고 있어 대부분의 산업 검사 응용 요구를 충족시키며, 광범위한 적용 가능성을 보여준다.

구조화광;3차원 측정;텔레센트릭 렌즈;고정밀도