입자 간격 결함(Particle Gap)은 액정 패널에서 흔히 발생하는 결함 중 하나이며, 산업 생산에서 결함의 심각도 평가가 정확히 필요합니다. 기존 평가 방법은 정확도가 낮고 오차가 큰 문제점이 있습니다. 본 논문은 Particle Gap 결함의 형태 및 색상 특성을 기반으로 포토샵 소프트웨어를 활용하여 Particle Gap 전자 한계 샘플을 설계함으로써 결함 등급 평가의 정확도를 향상시켰습니다. 먼저 형태에 따라 결함을 4가지 유형으로 분류하였고, 색채 분석기를 통해 핵이 있는 원형과 핵이 없는 원형 결함의 색상이 등방성임을 발견하였으며, 중심에서 가장자리로 균일한 그라데이션과 불균일한 그라데이션 두 가지 유형으로 나누었습니다. 그 후 Particle Gap 전자 한계 샘플 모델을 구축하였고, 비교 실험을 통해 서로 다른 등급 간에 정밀한 전자 한계 샘플을 찾아냈습니다. 마지막으로 Particle Gap의 색 영역 범위가 색상 H∈［30°, 45°］, 채도 S∈［2%, 56%］, 명도 B∈［15%, 66%］임을 분석하였습니다. 결함이 경미에서 심각으로 변함에 따라 색상은 전반적으로 감소하는 경향을 보이며, 채도는 점차 증가하고 명도는 먼저 상승한 후 하락하는 경향을 보여 전자 한계 샘플 제작 및 수정에 참고가 됩니다. 해당 한계 샘플을 H사 패널 검사 공정에 적용한 결과 Particle Gap 등급 정확도가 7.1% 이상 향상되었으며, 오검출로 인한 제품 및 자재 손실이 현저히 감소하여 결함 검사 분야에서 중요한 응용 가치를 가집니다.

Particle Gap 결함; 한계 샘플; HSB 색상 값; 검사 정확도