고분광 SPRi 센서를 사용하여 폴리스티렌 마이크로구의 SPR 현미경 이미징을 수행하고, 다양한 편광 조건에서 획득한 고분광 SPR 이미지 데이터를 처리하여 SPR 고분광 이미지에 내재된 얼룩의 대비를 효과적으로 감소시켜 폴리스티렌 마이크로구 샘플의 위치와 윤곽을 더욱 명확하게 했다. 처리된 단일 픽셀 SPR 스펙트럼은 부드러워져 광원 스펙트럼 자체 특성과 임의 잡음이 SPR 공명 정보 추출에 미치는 영향을 줄였다. 폴리스티렌 마이크로구의 SPR 이미지와 반사식 명시야 현미경 이미지를 비교한 결과, 주로 소멸장 침투 깊이 제한으로 인해 두 이미지 간에 뚜렷한 차이가 있음을 발견했다. 결과는 반사식 명시야 현미경 이미지에 비해 SPR 이미지가 소멸장 내 입자와 금속 표면의 접촉 상태를 명확히 반영할 수 있지만, 소멸장 침투 깊이를 초과하는 물체의 실제 크기를 정량화할 수 없음을 보여준다.

표면 플라즈몬 공명 영상;분광 영상;폴리스티렌 마이크로구;영상 처리