光制御配向技術は液晶光学デバイスの製造において常に重要な工程でした。光制御配向技術におけるアンカリング強度と露光条件の関係を正確に測定することは、デバイスの性能向上に極めて重要です。しかし、現在のアンカリング強度の測定方法には、同一配向膜の単一点における前後の複数状態の測定ができないなどの制約があり、実際の応用で多くの不便を生じています。これを踏まえ、本論文では位相検出原理に基づく新しい方位アンカリングエネルギー測定方法を提案します。微分正規化フィッティング法と全方位透過特性補正を組み合わせることで、初期配置誤差を効果的に除去し、測定プロセスを大幅に最適化し、測定誤差を8％以内に抑えるとともに、測定効率を大幅に向上させました。理論および実験結果から、本方法は露光パラメータの変化に伴う光制御配向膜のアンカリングエネルギーを迅速かつ効果的に測定でき、高い精度と安定性を持ち、液晶光学部品の精密製造プロセスにリアルタイムオンライン監視手段を提供し、光制御配向の物理過程の把握および製造品質の向上に極めて重要であることが示されました。

液晶;方位アンカリングエネルギー;ねじれ角;光制御配向技術