粒子ギャップ（Particle Gap）欠陥は液晶パネルの一般的な欠陥の一つであり、産業生産において欠陥の深刻度を正確に評価する必要があります。従来の評価方法は精度が低く、誤差が大きい問題があります。本論文ではParticle Gap欠陥の形態および色の特徴に基づき、Photo Shopソフトを利用してParticle Gap電子リミットサンプルを設計し、欠陥等級評価の精度を向上させました。まず形態により欠陥を4種類に分類し、色彩分析計により核ありの円形欠陥と核なしの円形欠陥の色は等方性を示し、中心から縁部にかけて均一なグラデーションと不均一なグラデーションの2種類に分類されることを発見しました。次にParticle Gap電子リミットサンプルモデルを構築し、対比実験により異なる等級間の正確な電子リミットサンプルを見出しました。最後にParticle Gapの色域範囲は色相H∈［30°，45°］、彩度S∈［2%，56%］、明度B∈［15%，66%］であることを分析しました。欠陥が軽度から重度に変わるにつれて色相は全体的に低下傾向を示し、彩度は徐々に増加し、明度は先に上昇し後に低下する傾向を示し、電子リミットサンプルの作成および改訂に参考となります。このリミットサンプルをH社のパネル検査工程に適用したところ、Particle Gap等級の正確率が7.1％以上向上し、誤検出による製品および材料の損失が著しく減少し、欠陥検出分野において重要な応用価値があります。

Particle Gap欠陥; 限度サンプル; HSB色値; 検査精度