有機発光ダイオード（Organic Light-Emitting Diode、OLED）表示技術は、有機材料の自発光により広色域、低消費電力、柔軟性などの利点を示し、最も発展可能性のある表示技術の一つです。現在のOLED表示は寿命が短く、輝度が低く、信頼性が低いといった問題を抱えており、これらの問題は最終的に残像現象の発生を引き起こします。本稿は、OLED表示の残像問題の研究進展と関連する解決策を分析・総括することを目的としています。まず、OLED表示の残像問題とOLED材料の寿命及び薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor、TFT）の安定性との関連を説明し、柔軟型と剛性型OLEDデバイスの構造的な違いに注目し、さらにOLED残像の発生メカニズムをまとめます。次に、さまざまな残像誘発原因に対して、OLED表示残像の緩和および補償方法について、OLED有機材料寿命の向上やTFT閾値電圧の安定性、外部補償回路などの方法を含めて議論します。最後に、OLED表示残像問題の今後の解決策について展望を述べます。

有機発光ダイオード;残像;薄膜トランジスタ;柔軟ディスプレイ