摘要
高分光SPRiセンサーを使用してポリスチレンマイクロビーズのSPR顕微鏡イメージングを行い、異なる偏光条件下で取得した高分光SPR画像データを処理することで、SPR高分光画像に内在する斑点のコントラストを効果的に低減し、ポリスチレンマイクロビーズ試料の位置と輪郭をより鮮明にした。処理後の単一ピクセルSPRスペクトルは滑らかになり、光源スペクトルの特性およびランダムノイズがSPR共鳴情報抽出に与える影響を低減した。ポリスチレンマイクロビーズのSPR画像と反射型明視野顕微鏡画像を比較したところ、主に消失場の浸透深度の制限により両者に明確な違いがあることが分かった。結果は、反射型明視野顕微鏡画像と比較して、SPR画像が消失場内の微粒子と金属表面の接触状態を明確に反映できる一方で、消失場浸透深度を超える物体の実際のサイズを定量化できないことを示している。
关键词
表面プラズモン共鳴イメージング;分光イメージング;ポリスチレンマイクロビーズ;画像処理
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