La microscopie ptychographique de Fourier (Fourier Ptychographic Microscopy, FPM) acquiert un ensemble d'images d'intensité basse résolution sous différents angles d'éclairage, et utilise la synthèse d'ouverture et la récupération de phase pour fusionner les images, réalisant ainsi un champ de vision large et une imagerie quantitative à haute résolution. La position précise du spectre est une connaissance préalable importante pour l'algorithme de reconstruction et cruciale pour obtenir des images reconstruites de haute qualité. Ainsi, la correction de la pose de la source d'éclairage déterminant la position spectrale de l'image est une étape clé pour un système FPM robuste. Ces dernières années, plusieurs méthodes de correction de la pose de la source d'éclairage ont été proposées : la méthode de correction mécanique utilisant une plateforme mécanique de précision multidimensionnelle, la méthode de correction pilotée par les données basée sur l'intensité des images ou les informations spectrales, et la méthode de correction basée sur le principe optique microscopique et le mécanisme d'imagerie. Cet article présente brièvement les principes fondamentaux de la FPM et les déviations de la pose de la source, ainsi qu'un aperçu des principes et caractéristiques des trois méthodes de correction. La correction mécanique peut éliminer les déviations à la source mais est fastidieuse ; la méthode pilotée par les données peut corriger automatiquement la pose mais souffre de longs temps de correction et d'une couplage des paramètres ; la méthode basée sur le mécanisme d'imagerie offre non seulement une haute robustesse mais permet aussi de séparer avec précision les paramètres de pose à partir de diverses erreurs systémiques, ce qui en fait une méthode prometteuse avec un fort potentiel de développement et d'application.

Microscopie ptychographique de Fourier;imagerie optique computationnelle;récupération de phase;correction de pose