Pour améliorer la valeur critique maximale de la fuite de lumière par pression sur le panneau LCD et sa résistance à la compression, une analyse du mécanisme de fuite de lumière due à la pression sur le panneau LCD a été réalisée. Associée à la production réelle de l'entreprise, une conception d'expérience (DOE) a été utilisée pour sélectionner les facteurs principaux. Les résultats DOE montrent que les facteurs principaux de la fuite de lumière par pression sont la taille des entretoises colonnes (Photo spacer, PS), la largeur de la matrice noire (Black Matrix, BM), la position du PS et l'épaisseur de la couche de planarisation (PLN). Des expériences d'amélioration ont été menées en production réelle pour améliorer la fuite de lumière par pression. Les résultats indiquent que l'augmentation de la taille du PS peut augmenter efficacement la résistance à la pression du panneau de 32,69%, et que l'augmentation de la taille entraîne une augmentation du taux de récupération élastique de 4,4%, ce qui réduit efficacement l'apparition de la fuite de lumière par pression ; la conception avec une augmentation de 3 μm de la largeur du BM a augmenté la valeur critique moyenne de la fuite de lumière par pression de 30,61 % ; le changement de position du PS vers un design centré globalement a augmenté la valeur critique moyenne de la force pour la fuite de lumière par pression de 33,33 % par rapport à la conception décalée vers le haut à droite ; la réduction de l'épaisseur du PLN de 0,6 μm a augmenté efficacement la valeur critique de la fuite de lumière par pression de 27,08 %.

Panneau LCD;Fuite de lumière par pression;Entretoises;Conception d'expérience