Um die Anforderungen an eine hochpräzise Polarisationsdetektion zu erfüllen, muss bei der Konstruktion eines kanaltypischen Polarspektrometers der Polarisations-Effekt des Teleskop-Systems berücksichtigt und entsprechend analysiert sowie optimiert werden. Zunächst werden die Einflussfaktoren des Polarisations-Effekts des Teleskop-Systems analysiert. Mittels Koordinatentransformation und Verkettung von Mueller-Matrizen wird ein Mueller-Matrix-Modell des Teleskop-Systems unter Berücksichtigung der Polarisations-Effekte der Beschichtungsschichten aufgebaut und in das Polarisations-Demodulationsmodell des kanaltypischen Polarspektrometers eingeführt. Anschließend werden durch gleichzeitige Steuerung der Transmission und der Phasenverzögerung von S- und P-Licht geeignete Beschichtungsschichten mit geringem Polarisations-Effekt entworfen. Schließlich wird die Polarisationswirkung des Teleskop-Systems mit unterschiedlich beschichteten Schichten mittels polarisiertem Strahlenverfolgungsverfahren simuliert. Die Simulationsergebnisse zeigen, dass bei Wellenlängen von 580 nm und 750 nm die Änderung der Polarisationsmessgenauigkeit zwischen Schichtsystemen mit geringem und hohem Polarisations-Effekt nicht signifikant ist. Bei 420 nm Wellenlänge verbessert das Schichtsystem mit geringem Polarisations-Effekt die Polarisationsmessgenauigkeit im Randfeld um 3,22 % gegenüber den üblichen Schichtsystemen. Das Schichtsystem mit geringem Polarisations-Effekt kann den Polarisations-Effekt des Teleskop-Systems des kanaltypischen Polarspektrometers effektiv reduzieren und so die Polarisationsmessgenauigkeit des Geräts verbessern.

Polarisation-Spektralkamera;Polarisationseffekt;Stokes-Vektor;Mueller-Matrix