Die Fourier-Ptychographie-Mikroskopie (Fourier Ptychographic Microscopy, FPM) erfasst eine Reihe von niedrigauflösenden Intensitätsbildern unter verschiedenen Beleuchtungswinkeln und nutzt synthetische Apertur und Phasenrückgewinnung zur Fusion, wodurch ein großes Sichtfeld und hochauflösende quantitative komplexe Amplitudenabbildung realisiert werden. Die präzise Spektralposition ist ein wichtiges a priori Wissen für den Rekonstruktionsalgorithmus und entscheidend für die Gewinnung hochwertiger Rekonstruktionsbilder. Daher ist die Korrektur der Beleuchtungsquellenpose, die die Bildspektralposition bestimmt, eine wichtige Aufgabe zur Realisierung eines robusten FPM-Systems. In den letzten Jahren wurden verschiedene Methoden zur Korrektur der Beleuchtungsquellenpose vorgeschlagen: mechanische Kalibrierung mit mehrfreiheitsgradigen präzisen mechanischen Plattformen, datengetriebene Kalibrierung basierend auf der Intensität der aufgenommenen Bilder oder Spektralinformationen sowie eine Bildmechanismus-basierte Kalibrierung, die auf optischen Prinzipien des Mikroskops beruht. Dieser Artikel stellt die Grundprinzipien der FPM und die Quellenposenabweichungen kurz vor und gibt einen Überblick über die Prinzipien und Eigenschaften der drei Kalibrierungsmethoden. Die mechanische Kalibrierung kann die Positionsabweichungen von der Quelle her eliminieren, ist aber zeit- und arbeitsintensiv; die datengetriebene Kalibrierung kann die Positionsabweichungen automatisch korrigieren, leidet jedoch unter langen Kalibrierzeiten und Parameterkopplungen; die auf dem Bildmechanismus basierende Kalibrierung ist nicht nur robust, sondern kann auch genaue Posenparameter von verschiedenen Systemfehlern trennen, was sie zu einer vielversprechenden Methode mit großem Entwicklungspotenzial und Anwendungsaussichten macht.

Fourier-Ptychographie-Mikroskopie;computergestützte optische Bildgebung;Phasenrekonstruktion;Pose-Kalibrierung